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深層強化学習を使用した X 線 CT の逐次実験計画
Sequential Experimental Design for X-Ray CT Using Deep Reinforcement Learning
X 線コンピュータ断層撮影 (CT) では、さまざまな角度からの投影が取得され、3D 再構成に使用されます。 CT をインライン品質管理に適したものにするためには、再構成の品質を維持しながら角度の数を減らす必要があります。スパースアングル断層撮影法は、限られたデータから 3D 再構成を取得するための一般的なアプローチです。パフォーマンスを最適化するには、スキャン角度を順番に調整して、スキャン対象ごとに最も有益な角度を選択します。数学的には、これは最適実験計画 (OED) 問題の解決に対応します。 OED 問題は、オンライン、つまりスキャン中に解決できない、高次元の非凸の 2 レベルの最適化問題です。これらの課題に対処するために、ベイジアン フレームワークで部分的に観察可能なマルコフ決定プロセスとして OED 問題を提起し、深層強化学習を通じてそれを解決します。このアプローチは、数値最適化によって特定の OED 問題を直接解決するのではなく、広範なオフライン トレーニングを通じて特定のクラスの OED 問題を解決するための効率的な非貪欲なポリシーを学習します。したがって、トレーニングされたポリシーは、オンラインで最も有益なスキャン角度を首尾よく見つけることができます。私たちは、Actor-Critic アプローチに基づくポリシー トレーニング手法を使用し、合成データを使用した 2D 断層撮影でのパフォーマンスを評価します。
In X-ray Computed Tomography (CT), projections from many angles are acquired and used for 3D reconstruction. To make CT suitable for in-line quality control, reducing the number of angles while maintaining reconstruction quality is necessary. Sparse-angle tomography is a popular approach for obtaining 3D reconstructions from limited data. To optimize its performance, one can adapt scan angles sequentially to select the most informative angles for each scanned object. Mathematically, this corresponds to solving and optimal experimental design (OED) problem. OED problems are high-dimensional, non-convex, bi-level optimization problems that cannot be solved online, i.e., during the scan. To address these challenges, we pose the OED problem as a partially observable Markov decision process in a Bayesian framework, and solve it through deep reinforcement learning. The approach learns efficient non-greedy policies to solve a given class of OED problems through extensive offline training rather than solving a given OED problem directly via numerical optimization. As such, the trained policy can successfully find the most informative scan angles online. We use a policy training method based on the Actor-Critic approach and evaluate its performance on 2D tomography with synthetic data.
updated: Wed Jul 12 2023 13:28:01 GMT+0000 (UTC)
published: Wed Jul 12 2023 13:28:01 GMT+0000 (UTC)
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