太陽光発電 (PV) パネルの表面欠陥検出技術は、太陽光発電業界がスマート メンテナンスを実行するために不可欠です。コンピューター ビジョン テクノロジを使用して PV パネルの表面の欠陥を検出することで、従来の作業員の現場検査の作業負荷を軽減しながら、精度を向上させることができます。ただし、PV パネルの表面に複数の小さな欠陥があり、異なる欠陥間の類似性が高いため、このような欠陥を正確に特定して検出することは困難です。この論文では、PV パネルの欠陥検出のために、BottleneckCSP と YOLOv5 (GBH-YOLOv5) を組み込んだ小さなターゲット予測ヘッドを使用したゴースト畳み込みという名前のアプローチを提案します。マルチスケール ターゲットの精度を向上させるために、BottleneckCSP モジュールが導入され、小さなターゲット検出用の予測ヘッドが追加され、小さな欠陥のミスが軽減されます。Ghost 畳み込みを使用して、モデルの推論速度が向上し、パラメーターの数が削減されます。最初に、元の画像を圧縮してトリミングし、欠陥サイズを物理的に拡大します。次に、処理された画像が GBH-YOLOv5 に入力され、Ghost 畳み込み、BottleneckCSP モジュールのアプリケーション、および小さなターゲットの予測ヘッドに基づくネットワーク処理によって深度特徴が抽出されます。最後に、抽出された特徴は、Feature Pyramid Network (FPN) と Path Aggregation Network (PAN) 構造によって分類されます。一方、提案手法の有効性を検証するために、提案手法を最新の手法と比較します。提案された PV パネルの表面欠陥検出ネットワークは、mAP のパフォーマンスを少なくとも 27.8% 向上させます。
Photovoltaic (PV) panel surface-defect detection technology is crucial for the PV industry to perform smart maintenance. Using computer vision technology to detect PV panel surface defects can ensure better accuracy while reducing the workload of traditional worker field inspections. However, multiple tiny defects on the PV panel surface and the high similarity between different defects make it challenging to accurately identify and detect such defects. This paper proposes an approach named Ghost convolution with BottleneckCSP and a tiny target prediction head incorporating YOLOv5 (GBH-YOLOv5) for PV panel defect detection. To ensure better accuracy on multiscale targets, the BottleneckCSP module is introduced to add a prediction head for tiny target detection to alleviate tiny defect misses, using Ghost convolution to improve the model inference speed and reduce the number of parameters. First, the original image is compressed and cropped to enlarge the defect size physically. Then, the processed images are input into GBH-YOLOv5, and the depth features are extracted through network processing based on Ghost convolution, the application of the BottleneckCSP module, and the prediction head of tiny targets. Finally, the extracted features are classified by a Feature Pyramid Network (FPN) and a Path Aggregation Network (PAN) structure. Meanwhile, we compare our method with state-of-the-art methods to verify the effectiveness of the proposed method. The proposed PV panel surface-defect detection network improves the mAP performance by at least 27.8%.