脳の包括的なシナプス解像度のイメージングは、神経細胞の計算と機能を理解するために非常に重要です。コネクトミクスでは、これが体積電子顕微鏡 (EM) の唯一の範囲であり、組織を多数の薄く壊れやすいスライスに切断し、画像化、位置合わせ、および再構築する必要があるため、非常に困難なプロセスが伴います。 EM とは異なり、硬 X 線イメージングは厚い組織と互換性があり、薄切片の必要性を排除し、高速取得、固有の位置合わせ、および等方性解像度を提供します。残念なことに、現在の最先端の X 線顕微鏡法は、膜のセグメント化が非常に困難な程度まで、はるかに低い解像度を提供します。 X 線画像を強化された膜セグメンテーション品質を備えた EM のような画像に変換する不確実性を認識した 3D 再構成モデルを提案し、よりシンプル、高速、かつ正確な X 線ベースのコネクトミクス パイプラインを開発する可能性を示します。
Comprehensive, synapse-resolution imaging of the brain will be crucial for understanding neuronal computations and function. In connectomics, this has been the sole purview of volume electron microscopy (EM), which entails an excruciatingly difficult process because it requires cutting tissue into many thin, fragile slices that then need to be imaged, aligned, and reconstructed. Unlike EM, hard X-ray imaging is compatible with thick tissues, eliminating the need for thin sectioning, and delivering fast acquisition, intrinsic alignment, and isotropic resolution. Unfortunately, current state-of-the-art X-ray microscopy provides much lower resolution, to the extent that segmenting membranes is very challenging. We propose an uncertainty-aware 3D reconstruction model that translates X-ray images to EM-like images with enhanced membrane segmentation quality, showing its potential for developing simpler, faster, and more accurate X-ray based connectomics pipelines.