近年、産業部門は第 4 の革命に向かって進化しています。品質管理の分野では、コンピュータ ビジョンの異常検出のための高度な機械学習に特に関心があります。それにもかかわらず、高品質の要件を保証するために、不均衡なデータセット、画像の複雑さ、ゼロ偽陰性 (ZFN) 制約など、いくつかの課題に直面する必要があります。このホワイト ペーパーでは、通常の製品でトレーニングされたベクトル量子化生成敵対ネットワーク (VQGAN) を使用して、プリント回路基板アセンブリ (PCBA) のイメージが最初に再構築される産業パートナーのユース ケースについて説明します。次に、いくつかの正常な画像と異常な画像で複数のマルチレベル メトリックが抽出され、再構成の違いによって異常が強調表示されます。最後に、分類子は、抽出されたメトリックのおかげで複合異常スコアを構築するようにトレーニングされます。この 3 ステップのアプローチは、パブリック MVTec-AD データセットとパートナー PCBA データセットで実行され、ZFN 制約の下で 95.69% と 87.93% の通常の精度を達成します。
In recent years, the industrial sector has evolved towards its fourth revolution. The quality control domain is particularly interested in advanced machine learning for computer vision anomaly detection. Nevertheless, several challenges have to be faced, including imbalanced datasets, the image complexity, and the zero-false-negative (ZFN) constraint to guarantee the high-quality requirement. This paper illustrates a use case for an industrial partner, where Printed Circuit Board Assembly (PCBA) images are first reconstructed with a Vector Quantized Generative Adversarial Network (VQGAN) trained on normal products. Then, several multi-level metrics are extracted on a few normal and abnormal images, highlighting anomalies through reconstruction differences. Finally, a classifer is trained to build a composite anomaly score thanks to the metrics extracted. This three-step approach is performed on the public MVTec-AD datasets and on the partner PCBA dataset, where it achieves a regular accuracy of 95.69% and 87.93% under the ZFN constraint.