受動的な飛行時間型イメージングとマイクロメートルの軸方向解像度での深さセンシングのための干渉技術を紹介します。私たちの技術は、唯一の光源として太陽光を使用するように変更された全視野マイケルソン干渉計を使用しています。太陽光の広いスペクトル帯域幅により、単純な軸方向スキャン操作により、マイクロメートル分解能の時間分解シーン応答を取得できます。さらに、太陽光の角度帯域幅により、相互反射や表面下散乱などの間接照明効果の影響を受けない飛行時間測定を取得できます。屋外、直射日光、機械的振動や車両交通などの悪環境条件で動作する実験用プロトタイプを構築します。このプロトタイプを使用して、間接照明に対して堅牢なマイクロメートルスケールの深度センシング、直接のみのイメージング、拡散板を介したイメージングなどのパッシブイメージング機能を初めて実証します。
We introduce an interferometric technique for passive time-of-flight imaging and depth sensing at micrometer axial resolutions. Our technique uses a full-field Michelson interferometer, modified to use sunlight as the only light source. The large spectral bandwidth of sunlight makes it possible to acquire micrometer-resolution time-resolved scene responses, through a simple axial scanning operation. Additionally, the angular bandwidth of sunlight makes it possible to capture time-of-flight measurements insensitive to indirect illumination effects, such as interreflections and subsurface scattering. We build an experimental prototype that we operate outdoors, under direct sunlight, and in adverse environmental conditions such as mechanical vibrations and vehicle traffic. We use this prototype to demonstrate, for the first time, passive imaging capabilities such as micrometer-scale depth sensing robust to indirect illumination, direct-only imaging, and imaging through diffusers.