特徴埋め込みベースの方法は、ターゲット画像の特徴を通常の画像と比較することにより、産業の異常を検出する際に優れた性能を示しています。ただし、一部の方法は、実世界のアプリケーションにとって重要なリアルタイム推論の速度要件を満たしていません。この問題に対処するために、リアルタイムの産業異常検出のための Fast Adaptive Patch Memory (FAPM) と呼ばれる新しい方法を提案します。 FAPM は、画像の埋め込み機能をそれぞれパッチ レベルおよびレイヤー レベルで格納するパッチ単位およびレイヤー単位のメモリ バンクを利用し、不要な反復計算を排除します。また、より高速で正確な検出のために、パッチごとの適応型コアセット サンプリングも提案します。 FAPM は、他の最先端の方法と比較して、精度と速度の両方で優れたパフォーマンスを発揮します
Feature embedding-based methods have shown exceptional performance in detecting industrial anomalies by comparing features of target images with normal images. However, some methods do not meet the speed requirements of real-time inference, which is crucial for real-world applications. To address this issue, we propose a new method called Fast Adaptive Patch Memory (FAPM) for real-time industrial anomaly detection. FAPM utilizes patch-wise and layer-wise memory banks that store the embedding features of images at the patch and layer level, respectively, which eliminates unnecessary repetitive computations. We also propose patch-wise adaptive coreset sampling for faster and more accurate detection. FAPM performs well in both accuracy and speed compared to other state-of-the-art methods