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Few-shot Metric Learning: 検索のための埋め込みのオンライン適応
Few-shot Metric Learning: Online Adaptation of Embedding for Retrieval
メトリック学習は、通常、同様のオブジェクトを埋め込み空間内の近くのポイントにマッピングする効果的な埋め込み関数を学習することにより、距離メトリックを構築することを目的としています。ディープ メトリック学習の最近の進歩にもかかわらず、学習したメトリックを実質的なドメイン ギャップを持つ目に見えないクラスに一般化することは依然として困難です。この問題に取り組むために、少数の注釈付きデータのみを使用して埋め込み関数をターゲットドメインに適応させることを目的とした、少数ショットメトリック学習の新しい問題を調査します。 3 つの少数ショット メトリック学習ベースラインを導入し、チャネル整流器メタ学習 (CRML) を提案します。これは、中間層のチャネルを調整することによってオンラインでメトリック空間を効果的に適応させます。 miniImageNet、CUB-200-2011、MPII、および新しいデータセットである miniDeepFashion に関する実験的分析は、私たちの方法が学習したメトリックをターゲット クラスに適応させることで一貫して改善し、ドメインがソース クラスはより大きくなります。
Metric learning aims to build a distance metric typically by learning an effective embedding function that maps similar objects into nearby points in its embedding space. Despite recent advances in deep metric learning, it remains challenging for the learned metric to generalize to unseen classes with a substantial domain gap. To tackle the issue, we explore a new problem of few-shot metric learning that aims to adapt the embedding function to the target domain with only a few annotated data. We introduce three few-shot metric learning baselines and propose the Channel-Rectifier Meta-Learning (CRML), which effectively adapts the metric space online by adjusting channels of intermediate layers. Experimental analyses on miniImageNet, CUB-200-2011, MPII, as well as a new dataset, miniDeepFashion, demonstrate that our method consistently improves the learned metric by adapting it to target classes and achieves a greater gain in image retrieval when the domain gap from the source classes is larger.
updated: Mon Nov 14 2022 05:10:17 GMT+0000 (UTC)
published: Mon Nov 14 2022 05:10:17 GMT+0000 (UTC)
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