arXiv reaDer
光線による配列の調整: 量子ドット電荷状態の物理学に基づく調整
Tuning arrays with rays: Physics-informed tuning of quantum dot charge states
ゲートで定義された量子ドット (QD) に基づく量子コンピューターは、スケーリングが期待されています。ただし、キュービットの数が増えると、これらのシステムを手動で調整する負担が不合理になり、自律的な調整を使用する必要があります。最近では、粗いゲート範囲、グローバル状態トポロジー (単一 QD、二重 QD など)、電荷、さまざまな方法によるトンネル結合など、さまざまな QD パラメーターの自動調整のさまざまなデモが行われています。ここでは、物理学に基づくチューニング (PIT) と見なされるフレームワークで自動化されたグローバルな状態と電荷のチューニングのための、直感的で信頼性が高く、データ効率の高い一連のツールを示します。 PIT の最初のモジュールは、機械学習 (ML) 分類子と物理学の知識を組み合わせて、ターゲットのグローバル状態に移動するアクション ベースのアルゴリズムです。 2 番目のモジュールは、一連の 1 次元測定を使用して、最初に QD の電荷を空にし、続いて容量結合をキャリブレーションし、ターゲットの充電状態に移動することで、ターゲットの充電状態に調整します。アクションベースのチューニングの成功率は、オフライン テストに適したシミュレーション データと実験データの両方で一貫して 95% を超えています。充電設定の成功率は、シミュレートされたデータを使用したテストでは 95.5(5.4)~% で同等であり、オフラインの実験テストではわずかに悪く、平均 89.7(17.4)~% (中央値 97.5~%) です。学術的なクリーンルームで製造されたサンプルからのデータと産業用の 300 mm プロセス ラインの両方で高性能が実証されていることは注目に値し、PIT のデバイスに依存しないことをさらに強調しています。一緒に、一連のシミュレートされた実験的なデバイスでのこれらのテストは、PIT の有効性と堅牢性を示しています。
Quantum computers based on gate-defined quantum dots (QDs) are expected to scale. However, as the number of qubits increases, the burden of manually calibrating these systems becomes unreasonable and autonomous tuning must be used. There have been a range of recent demonstrations of automated tuning of various QD parameters such as coarse gate ranges, global state topology (e.g. single QD, double QD), charge, and tunnel coupling with a variety of methods. Here, we demonstrate an intuitive, reliable, and data-efficient set of tools for automated global state and charge tuning in a framework deemed physics-informed tuning (PIT). The first module of PIT is an action-based algorithm that combines a machine learning (ML) classifier with physics knowledge to navigate to a target global state. The second module uses a series of one-dimensional measurements to tune to a target charge state by first emptying the QDs of charge, followed by calibrating capacitive couplings, and navigating to the target charge state. The success rate for the action-based tuning consistently surpasses 95~% on both simulated and experimental data suitable for off-line testing. The success rate for charge setting is comparable when testing with simulated data, at 95.5(5.4)~%, and only slightly worse for off-line experimental tests, with an average of 89.7(17.4)~% (median 97.5~%). It's noteworthy that the high performance is demonstrated both on data from samples fabricated in an academic cleanroom as well as on an industrial 300 mm process line, further underlining the device-agnosticity of PIT. Together, these tests on a range of simulated and experimental devices demonstrate the effectiveness and robustness of PIT.
updated: Thu Sep 08 2022 14:17:49 GMT+0000 (UTC)
published: Thu Sep 08 2022 14:17:49 GMT+0000 (UTC)
参考文献 (このサイトで利用可能なもの) / References (only if available on this site)
被参照文献 (このサイトで利用可能なものを新しい順に) / Citations (only if available on this site, in order of most recent)
Amazon.co.jpアソシエイト