画像内の異常領域の検出は、産業用モニタリングで頻繁に発生する問題です。関連する例は、通常の状態では特定のテクスチャに適合する組織やその他の製品の分析ですが、欠陥は通常のパターンに変化をもたらします。ディープ オートエンコーダーをトレーニングすることで異常検出の問題に対処し、Complex Wavelet Structural Similarity (CW-SSIM) に基づく損失関数を採用すると、従来のオートエンコーダー損失関数と比較して、このタイプの画像で優れた検出パフォーマンスが得られることを示します。よく知られている異常検出ベンチマークに関する私たちの実験は、この損失関数でトレーニングされた単純なモデルが、より深く、より大規模で、より計算負荷の高いニューラル ネットワークを活用する最先端の方法と同等またはそれ以上のパフォーマンスを達成できることを示しています。
Detecting anomalous regions in images is a frequently encountered problem in industrial monitoring. A relevant example is the analysis of tissues and other products that in normal conditions conform to a specific texture, while defects introduce changes in the normal pattern. We address the anomaly detection problem by training a deep autoencoder, and we show that adopting a loss function based on Complex Wavelet Structural Similarity (CW-SSIM) yields superior detection performance on this type of images compared to traditional autoencoder loss functions. Our experiments on well-known anomaly detection benchmarks show that a simple model trained with this loss function can achieve comparable or superior performance to state-of-the-art methods leveraging deeper, larger and more computationally demanding neural networks.