劣化モデルは、ブラインド超解像(SR)で重要な役割を果たします。主にブラーの劣化を伴う従来の劣化モデルは、実際のシナリオをシミュレートするには単純すぎます。最近提案された実際の劣化モデルには、劣化タイプの全範囲が含まれていますが、現実の世界で一般的な多くの重要なコーナーケースを無視して、劣化プロセスですべての劣化タイプを使用する複雑なケースのみを考慮しています。この問題に対処するために、ランダムゲートコントローラーを使用して幅広い劣化ケースを生成する統合ゲート劣化モデルを提案します。ゲート劣化モデルに基づいて、非ブラインドで古典的な実用的な劣化ケースや他の多くのコーナーケースを効果的に処理できる単純なベースラインネットワークを提案します。ベースラインネットワークのパフォーマンスを最先端の方法と比較して公正に評価し、その限界を理解するために、すべての劣化タイプに対するSRネットワークのパフォーマンスの上限を紹介します。私たちの経験的分析は、統一されたゲート劣化モデルを使用すると、提案されたベースラインは、パフォーマンスの上限に近い定量的および定性的な結果で、既存の方法よりもはるかに優れたパフォーマンスを達成できることを示しています。
Degradation models play an important role in Blind super-resolution (SR). The classical degradation model, which mainly involves blur degradation, is too simple to simulate real-world scenarios. The recently proposed practical degradation model includes a full spectrum of degradation types, but only considers complex cases that use all degradation types in the degradation process, while ignoring many important corner cases that are common in the real world. To address this problem, we propose a unified gated degradation model to generate a broad set of degradation cases using a random gate controller. Based on the gated degradation model, we propose simple baseline networks that can effectively handle non-blind, classical, practical degradation cases as well as many other corner cases. To fairly evaluate the performance of our baseline networks against state-of-the-art methods and understand their limits, we introduce the performance upper bound of an SR network for every degradation type. Our empirical analysis shows that with the unified gated degradation model, the proposed baselines can achieve much better performance than existing methods in quantitative and qualitative results, which are close to the performance upper bounds.