測定のコストや干渉により、測定システムを制御する必要があります。各変数を順次測定できると仮定すると、前の観測値の次の測定値を選択する最適なポリシーが存在します。最適な測定ポリシーは実際には測定の目的に依存しますが、私たちは主に完全なデータの取得、いわゆる代入に焦点を当てています。また、測定方針によって変化する欠落に代入法を適応させます。ただし、測定ポリシーと代入を学習するには、残念ながら観察できない完全なデータが必要です。この問題に取り組むために、データ生成方法と共同学習アルゴリズムを提案します。主な考え方は、1)データ生成方法は代入法に継承され、2)代入の適応は、測定ポリシーが個人の学習よりも多くを学習することを促進するというものです。 2つの異なるデータセットとさまざまな欠落率に対して提案されたアルゴリズムのいくつかのバリエーションを実装しました。実験結果から、我々のアルゴリズムは一般的に適用可能であり、ベースライン法よりも優れていることを示しています。
Due to the cost or interference of measurement, we need to control measurement system. Assuming that each variable can be measured sequentially, there exists optimal policy choosing next measurement for the former observations. Though optimal measurement policy is actually dependent on the goal of measurement, we mainly focus on retrieving complete data, so called as imputation. Also, we adapt the imputation method to missingness varying with measurement policy. However, learning measurement policy and imputation requires complete data which is impossible to be observed, unfortunately. To tackle this problem, we propose a data generation method and joint learning algorithm. The main idea is that 1) the data generation method is inherited by imputation method, and 2) the adaptation of imputation encourages measurement policy to learn more than individual learning. We implemented some variations of proposed algorithm for two different datasets and various missing rates. From the experimental results, we demonstrate that our algorithm is generally applicable and outperforms baseline methods.