ノンパラメトリックカーネル密度(KD)推定に基づくヒストグラムのマルチクラスしきい値処理の新しい方法を示します。ここで、KD推定の未知のパラメーターは、期待値最大化(EM)反復を使用して定義されます。このメソッドは、KD推定値の抽出された最小値の数を、要求されたクラスターの数から1を引いた数と比較します。これらの数値が一致する場合、アルゴリズムは最小値の位置をしきい値として返します。それ以外の場合、メソッドは、数値が一致するまでカーネル帯域幅を徐々に増減します。既知のしきい値を持つ合成ヒストグラムと実際のX線コンピューター断層撮影画像のヒストグラムを使用して方法を検証します。実際のヒストグラムをしきい値処理した後、サンプルの気孔率を推定し、直接の実験測定値と比較しました。比較は、しきい値の意味を示しています。
We present a new method for multiclass thresholding of a histogram which is based on the nonparametric Kernel Density (KD) estimation, where the unknown parameters of the KD estimate are defined using the Expectation-Maximization (EM) iterations. The method compares the number of extracted minima of the KD estimate with the number of the requested clusters minus one. If these numbers match, the algorithm returns positions of the minima as the threshold values, otherwise, the method gradually decreases/increases the kernel bandwidth until the numbers match. We verify the method using synthetic histograms with known threshold values and using the histogram of real X-ray computed tomography images. After thresholding of the real histogram, we estimated the porosity of the sample and compare it with the direct experimental measurements. The comparison shows the meaningfulness of the thresholding.