製造プロセスの重要な側面は、製造されたコンポーネントの欠陥や欠陥を視覚的に検査することです。人間のみの目視検査は、非常に時間と手間がかかる可能性があり、特に高スループットの製造シナリオでは重大なボトルネックになります。ディープラーニングの分野で大きな進歩があったことを考えると、自動化された視覚的品質検査は、製造プロセス中の欠陥や欠陥の非常に効率的で信頼性の高い検出につながる可能性があります。ただし、ディープラーニング主導の目視検査方法では、多くの場合、大量の計算リソースが必要になるため、スループットが制限され、スマートファクトリを実現するための広範な採用のボトルネックとして機能します。この研究では、機械駆動の設計調査アプローチを利用して、高スループットの製造業の視覚的品質検査用に調整された非常にコンパクトなディープコンボリューションネットワークアーキテクチャであるTinyDefectNetを作成することを調査しました。 TinyDefectNetは、わずか〜427Kのパラメーターで構成され、〜97M FLOPの計算の複雑さを持ちながら、NEU欠陥ベンチマークデータセットでの表面欠陥検出のタスクのための最先端のアーキテクチャの検出精度を実現します。そのため、TinyDefectNetは、アーキテクチャの複雑さを52分の1に、計算の複雑さを11分の1に抑えて、同じレベルの検出パフォーマンスを実現できます。さらに、TinyDefectNetはAMD EPYC 7R32にデプロイされ、ネイティブTensorflow環境を使用して7.6倍高速のスループットを達成し、AMDZenDNNアクセラレータライブラリを使用して9倍高速のスループットを達成しました。最後に、説明可能性に基づくパフォーマンス検証戦略を実施して、正しい意思決定行動がTinyDefectNetによって示され、オペレーターと検査官による使用の信頼性が向上したことを確認しました。
A critical aspect in the manufacturing process is the visual quality inspection of manufactured components for defects and flaws. Human-only visual inspection can be very time-consuming and laborious, and is a significant bottleneck especially for high-throughput manufacturing scenarios. Given significant advances in the field of deep learning, automated visual quality inspection can lead to highly efficient and reliable detection of defects and flaws during the manufacturing process. However, deep learning-driven visual inspection methods often necessitate significant computational resources, thus limiting throughput and act as a bottleneck to widespread adoption for enabling smart factories. In this study, we investigated the utilization of a machine-driven design exploration approach to create TinyDefectNet, a highly compact deep convolutional network architecture tailored for high-throughput manufacturing visual quality inspection. TinyDefectNet comprises of just ~427K parameters and has a computational complexity of ~97M FLOPs, yet achieving a detection accuracy of a state-of-the-art architecture for the task of surface defect detection on the NEU defect benchmark dataset. As such, TinyDefectNet can achieve the same level of detection performance at 52× lower architectural complexity and 11x lower computational complexity. Furthermore, TinyDefectNet was deployed on an AMD EPYC 7R32, and achieved 7.6x faster throughput using the native Tensorflow environment and 9x faster throughput using AMD ZenDNN accelerator library. Finally, explainability-driven performance validation strategy was conducted to ensure correct decision-making behaviour was exhibited by TinyDefectNet to improve trust in its usage by operators and inspectors.