最近、自己監視方式は、画像レベルの表現学習において目覚ましい成果を示しています。それにもかかわらず、それらの画像レベルの自己監視は、学習された表現を、オブジェクト検出、インスタンスセグメンテーションなどの高密度予測タスクに対して最適ではないものにします。この問題に取り組むために、最近のいくつかの自己監視学習方法は、画像レベルの単一を拡張しましたピクセルレベルの密な埋め込みへの埋め込み。画像レベルの表現学習とは異なり、拡張の空間的変形のため、ピクセルレベルの正のペアをサンプリングすることは困難です。以前の研究では、類似性の中で勝者がすべてを使用するか、密な埋め込み間の歪んだ距離をしきい値処理して、ピクセルレベルの正のペアをサンプリングしました。ただし、これらの単純な方法は、背景の乱雑さや外れ値の問題に悩まされる可能性があります。この論文では、2つの密な特徴間の幾何学的一貫性を強制するハフ空間ベースの方法であるハフ対照学習(HoughCL)を紹介します。 HoughCLは、背景の乱雑さや外れ値に対する堅牢性を実現します。さらに、ベースラインと比較して、私たちの密なポジティブペアリング方法には、追加の学習可能なパラメーターがなく、わずかな追加の計算コストがあります。以前の作業と比較して、私たちの方法は、密な予測の微調整タスクでより良いまたは同等のパフォーマンスを示しています。
Recently, self-supervised methods show remarkable achievements in image-level representation learning. Nevertheless, their image-level self-supervisions lead the learned representation to sub-optimal for dense prediction tasks, such as object detection, instance segmentation, etc. To tackle this issue, several recent self-supervised learning methods have extended image-level single embedding to pixel-level dense embeddings. Unlike image-level representation learning, due to the spatial deformation of augmentation, it is difficult to sample pixel-level positive pairs. Previous studies have sampled pixel-level positive pairs using the winner-takes-all among similarity or thresholding warped distance between dense embeddings. However, these naive methods can be struggled by background clutter and outliers problems. In this paper, we introduce Hough Contrastive Learning (HoughCL), a Hough space based method that enforces geometric consistency between two dense features. HoughCL achieves robustness against background clutter and outliers. Furthermore, compared to baseline, our dense positive pairing method has no additional learnable parameters and has a small extra computation cost. Compared to previous works, our method shows better or comparable performance on dense prediction fine-tuning tasks.