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開集合認識のための空間位置制約プロトタイプ損失
Spatial Location Constraint Prototype Loss for Open Set Recognition
パターン認識の課題の1つは、オープンセット認識です。閉集合認識と比較して、開集合認識は、経験的リスクだけでなく、オープンスペースリスクも削減する必要があり、これら2つのリスクの削減は、それぞれ既知のクラスの分類と未知のクラスの識別に対応します。オープンスペースのリスクをどのように減らすかが、オープンセット認識の鍵です。このホワイトペーパーでは、既知および未知のクラスの特徴の分布を分析することにより、オープンスペースのリスクの原因を探ります。これに基づいて、2つのリスクを同時に低減するために、空間位置制約プロトタイプ損失関数が提案されます。複数のベンチマークデータセットと多くの視覚化結果に関する広範な実験は、私たちの方法がほとんどの既存のアプローチよりも優れていることを示しています。
One of the challenges in pattern recognition is open set recognition. Compared with closed set recognition, open set recognition needs to reduce not only the empirical risk, but also the open space risk, and the reduction of these two risks corresponds to classifying the known classes and identifying the unknown classes respectively. How to reduce the open space risk is the key of open set recognition. This paper explores the origin of the open space risk by analyzing the distribution of known and unknown classes features. On this basis, the spatial location constraint prototype loss function is proposed to reduce the two risks simultaneously. Extensive experiments on multiple benchmark datasets and many visualization results indicate that our methods is superior to most existing approaches.
updated: Fri Nov 12 2021 09:59:14 GMT+0000 (UTC)
published: Thu Oct 21 2021 09:34:01 GMT+0000 (UTC)
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