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細粒度の一般化されたゼロショット学習のための統合された属性ガイド付き高密度注意モデル
An Integrated Attribute Guided Dense Attention Model for Fine-Grained Generalized Zero-Shot Learning
埋め込み学習(EL)と機能合成(FS)は、きめ細かいGZSLメソッドの一般的なカテゴリの2つです。 ELまたはFSメソッドを調査するグローバル機能は、ローカルの詳細を無視するため、細かい区別を調査しません。また、ELまたはFSメソッドを調査するローカルの詳細は、直接的な属性ガイダンスまたはグローバル情報を無視します。したがって、どちらの方法もうまく機能しません。この論文では、きめ細かいGZSLのために統合された方法で、ELとFSの両方のカテゴリのグローバルおよび直接属性監視ローカル視覚機能を調査することを提案します。提案された統合ネットワークには、ELサブネットワークとFSサブネットワークがあります。したがって、提案された統合ネットワークは2つの方法でテストできます。属性誘導局所視覚的特徴を発見するための新しい2段階の密な注意メカニズムを提案します。最適化のために相互に有益な情報を活用するために、サブネットワーク間の新しい相互学習を導入します。さらに、テスト中のソースドメインへのバイアスを減らすために、相互情報量に基づいてソースとターゲットのクラスの類似性を計算し、ターゲットクラスを転送学習することを提案します。提案された方法がベンチマークデータセットの現在の方法よりも優れていることを示します。
Embedding learning (EL) and feature synthesizing (FS) are two of the popular categories of fine-grained GZSL methods. The global feature exploring EL or FS methods do not explore fine distinction as they ignore local details. And, the local detail exploring EL or FS methods either neglect direct attribute guidance or global information. Consequently, neither method performs well. In this paper, we propose to explore global and direct attribute-supervised local visual features for both EL and FS categories in an integrated manner for fine-grained GZSL. The proposed integrated network has an EL sub-network and a FS sub-network. Consequently, the proposed integrated network can be tested in two ways. We propose a novel two-step dense attention mechanism to discover attribute-guided local visual features. We introduce new mutual learning between the sub-networks to exploit mutually beneficial information for optimization. Moreover, to reduce bias towards the source domain during testing, we propose to compute source-target class similarity based on mutual information and transfer-learn the target classes. We demonstrate that our proposed method outperforms contemporary methods on benchmark datasets.
updated: Fri Feb 05 2021 03:24:02 GMT+0000 (UTC)
published: Thu Dec 31 2020 21:38:46 GMT+0000 (UTC)
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