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工場計画における点群セグメンテーションのためのディープニューラルネットワークにおける不確実性推定
Uncertainty Estimation in Deep Neural Networks for Point Cloud Segmentation in Factory Planning
デジタルファクトリーは、効率と有効性の観点から、間違いなく将来の生産システムに大きな可能性をもたらします。実際の工場のデジタルコピーを実現するための重要な側面は、3Dデータに基づいて複雑な屋内環境を理解することです。主要コンポーネント、つまり建築部品、製品資産、プロセスの詳細を含む正確な工場モデルを生成するために、デジタル化中に収集された3Dデータは、高度な学習方法で処理できます。この作業では、点群セグメンテーションのための完全ベイズおよび近似ベイズニューラルネットワークを提案します。これにより、これらのネットワークの不確実性を推定するさまざまな方法が、生の3D点群のセグメンテーション結果をどのように改善するかを分析できます。頻度主義モデルと比較して、ベイジアンモデルと近似ベイジアンモデルの両方で優れたモデルパフォーマンスを実現します。ネットワークの不確実性を予測に組み込むと、このパフォーマンスの違いはさらに顕著になります。評価には、科学データセットS3DISと、ドイツの自動車生産工場で著者が収集したデータセットを使用します。この作業で提案された方法は、より正確なセグメンテーション結果につながり、不確実性情報を組み込むことで、このアプローチは特にセーフティクリティカルなアプリケーションに適用できます。
The digital factory provides undoubtedly a great potential for future production systems in terms of efficiency and effectivity. A key aspect on the way to realize the digital copy of a real factory is the understanding of complex indoor environments on the basis of 3D data. In order to generate an accurate factory model including the major components, i.e. building parts, product assets and process details, the 3D data collected during digitalization can be processed with advanced methods of deep learning. In this work, we propose a fully Bayesian and an approximate Bayesian neural network for point cloud segmentation. This allows us to analyze how different ways of estimating uncertainty in these networks improve segmentation results on raw 3D point clouds. We achieve superior model performance for both, the Bayesian and the approximate Bayesian model compared to the frequentist one. This performance difference becomes even more striking when incorporating the networks' uncertainty in their predictions. For evaluation we use the scientific data set S3DIS as well as a data set, which was collected by the authors at a German automotive production plant. The methods proposed in this work lead to more accurate segmentation results and the incorporation of uncertainty information makes this approach especially applicable to safety critical applications.
updated: Sun Dec 13 2020 11:18:52 GMT+0000 (UTC)
published: Sun Dec 13 2020 11:18:52 GMT+0000 (UTC)
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