arXiv reaDer
コンピュータビジョンとフローベースの欠陥検出の正規化
Computer Vision and Normalizing Flow Based Defect Detection
表面欠陥の検出は、製造中の製品の品質を管理するために不可欠であり、必要です。この複雑なタスクの課題は次のとおりです。1)欠陥のあるサンプルを収集し、トレーニングのために手動でラベルを付けるには時間がかかります。 2)新しいタイプの欠陥が常に発生する可能性があるため、欠陥の特性を定義するのは困難です。 3)実際の製品画像には多くのバックグラウンドノイズが含まれています。本論文では、物体検出モデルYOLOに基づく2段階の欠陥検出ネットワークと、正規化フローベースの欠陥検出モデルDifferNetを提示します。私たちのモデルは、生産ラインの監視システムから取得した実際のビデオクリップを使用した欠陥検出で高い堅牢性とパフォーマンスを備えています。正規化フローベースの異常検出モデルでは、トレーニングに必要なサンプルが少数であり、YOLOによって検出された製品画像に対して欠陥検出を実行します。私たちが発明したモデルは、2つの新しい戦略を採用しています:1)YOLOを使用する2段階ネットワークと製品欠陥検出を実行するための正規化フローベースモデル、2)YOLOによってトリミングされた製品画像が含む問題を解決するためにマルチスケール画像変換が実装されています多くのバックグラウンドノイズ。さらに、実際の工場の生産ラインから収集された新しいデータセットに対して広範な実験が行われます。提案されたモデルが、単一または複数の製品タイプの少数の欠陥のないサンプルで学習できることを示します。データセットはまた、表面欠陥検出のさらなる研究と研究を奨励するために公開されます。
Surface defect detection is essential and necessary for controlling the qualities of the products during manufacturing. The challenges in this complex task include: 1) collecting defective samples and manually labeling for training is time-consuming; 2) the defects' characteristics are difficult to define as new types of defect can happen all the time; 3) and the real-world product images contain lots of background noise. In this paper, we present a two-stage defect detection network based on the object detection model YOLO, and the normalizing flow-based defect detection model DifferNet. Our model has high robustness and performance on defect detection using real-world video clips taken from a production line monitoring system. The normalizing flow-based anomaly detection model only requires a small number of good samples for training and then perform defect detection on the product images detected by YOLO. The model we invent employs two novel strategies: 1) a two-stage network using YOLO and a normalizing flow-based model to perform product defect detection, 2) multi-scale image transformations are implemented to solve the issue product image cropped by YOLO includes many background noise. Besides, extensive experiments are conducted on a new dataset collected from the real-world factory production line. We demonstrate that our proposed model can learn on a small number of defect-free samples of single or multiple product types. The dataset will also be made public to encourage further studies and research in surface defect detection.
updated: Sat Dec 12 2020 05:38:21 GMT+0000 (UTC)
published: Sat Dec 12 2020 05:38:21 GMT+0000 (UTC)
参考文献 (このサイトで利用可能なもの) / References (only if available on this site)
被参照文献 (このサイトで利用可能なものを新しい順に) / Citations (only if available on this site, in order of most recent)
Amazon.co.jpアソシエイト