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技術領域におけるデータ効率の良い欠陥分類のためのシャム基底関数ネットワーク
Siamese Basis Function Networks for Data-efficient Defect Classification in Technical Domains
技術分野で深層学習モデルをトレーニングするには、タスクは明確ですが、トレーニングに利用できるデータが不十分であるという課題が伴うことがよくあります。この作業では、シャムネットワークと動径基底関数ネットワークの組み合わせに基づく新しいアプローチを提案し、データ効率の高い方法で意味空間内の画像間の距離を測定することにより、事前トレーニングなしでデータ効率の高い分類を実行します。 NEUデータセット、BSDデータセット、TEXデータセットの3つの技術データセットを使用してモデルを開発します。技術分野に加えて、古典的なデータセット(cifar10およびMNIST)への一般的な適用性も示します。このアプローチは、トレーニングに使用できるサンプル数を段階的に減らすことにより、最先端のモデル(Resnet50およびResnet101)に対してテストされます。著者らは、提案されたアプローチが、低データ体制において最先端のモデルよりも優れていることを示しています。
Training deep learning models in technical domains is often accompanied by the challenge that although the task is clear, insufficient data for training is available. In this work, we propose a novel approach based on the combination of Siamese networks and radial basis function networks to perform data-efficient classification without pretraining by measuring the distance between images in semantic space in a data- efficient manner. We develop the models using three technical datasets, the NEU dataset, the BSD dataset, and the TEX dataset. In addition to the technical domain, we show the general applicability to classical datasets (cifar10 and MNIST) as well. The approach is tested against state-of-the-art models (Resnet50 and Resnet101) by stepwise reduction of the number of samples available for training. The authors show that the proposed approach outperforms the state-of- the-art models in the low data regime.
updated: Thu Sep 02 2021 09:39:23 GMT+0000 (UTC)
published: Wed Dec 02 2020 17:16:42 GMT+0000 (UTC)
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