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技術領域におけるデータ効率の良い欠陥分類のためのシャム基底関数ネットワーク
Siamese Basis Function Network for Data Efficient Defect Classification in Technical Domains
技術分野でディープラーニングモデルをトレーニングすると、タスクは明確ですが、トレーニングに利用できるデータが不十分であるという課題が生じることがよくあります。この作業では、シャムネットワークと動径基底関数ネットワークの組み合わせに基づく新しいアプローチを提案し、データ効率の高い方法でセマンティック空間の画像間の距離を測定することにより、事前トレーニングなしでデータ効率の高い分類を実行します。 NEUデータセット、BSDデータセット、およびTEXデータセットの3つの技術データセットを使用してモデルを開発します。技術ドメインに加えて、古典的なデータセット(cifar10およびMNIST)への一般的な適用性も示しています。このアプローチは、トレーニングに使用できるサンプルの数を段階的に減らすことにより、最先端のモデル(Resnet50およびResnet101)に対してテストされます。著者らは、提案されたアプローチが、低データ体制において最先端のモデルよりも優れていることを示しています。
Training Deep Learning Models in technical domains often brings the challenges that although the task is clear, insufficient data for training is available. In this work we propose a novel approach based on the combination of Siamese-Networks and Radial-Basis- Function-Networks to perform data-efficient classification without pre-Training by measuring the distance between images in semantic space in a data efficient manner. We develop the models using three technical datasets, the NEU dataset the BSD dataset as well as the TEX dataset. Additional to the technical domain show the general applicability to classical datasets (cifar10 and MNIST) as well. The approach is tested against state of the art models (Resnet50 and Resnet101) by stepwise reducing the number of samples available for training. The authors show that the proposed approach outperforms the state of the art models in the low data regime.
updated: Mon Aug 30 2021 11:09:22 GMT+0000 (UTC)
published: Wed Dec 02 2020 17:16:42 GMT+0000 (UTC)
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