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ニューラルアーキテクチャ検索への応用を伴う、テストに合格することによる学習
Learning by Passing Tests, with Application to Neural Architecture Search
テストによる学習は、人間の学習で広く使用されている方法論であり、学習成果の向上に大きな効果を示します。一連のテストは、難易度を上げながら行われます。学習者はこれらのテストを受けて学習の弱点を特定し、これらの弱点に継続的に対処してこれらのテストに合格します。この強力な学習手法を人間から借りて、機械の学習能力を向上させることができるかどうかを調査したいと考えています。テスト合格(LPT)による学習と呼ばれる新しい学習アプローチを提案します。私たちのアプローチでは、テスターモデルは、学習者モデルを評価するためにますます困難なテストを作成します。学習者は、テスターが作成した難しいテストに合格できるように、学習能力を継続的に向上させようとします。 LPTを定式化するためのマルチレベルの最適化フレームワークを提案します。ここでは、テスターは困難で意味のあるテストを作成することを学び、学習者はこれらのテストに合格することを学びます。 LCT問題を解決するための効率的なアルゴリズムを開発します。私たちの方法は、ニューラルアーキテクチャの検索に適用され、CIFAR-100、CIFAR-10、およびImageNetの最先端のベースラインを大幅に上回ります。
Learning through tests is a broadly used methodology in human learning and shows great effectiveness in improving learning outcome: a sequence of tests are made with increasing levels of difficulty; the learner takes these tests to identify his/her weak points in learning and continuously addresses these weak points to successfully pass these tests. We are interested in investigating whether this powerful learning technique can be borrowed from humans to improve the learning abilities of machines. We propose a novel learning approach called learning by passing tests (LPT). In our approach, a tester model creates increasingly more-difficult tests to evaluate a learner model. The learner tries to continuously improve its learning ability so that it can successfully pass however difficult tests created by the tester. We propose a multi-level optimization framework to formulate LPT, where the tester learns to create difficult and meaningful tests and the learner learns to pass these tests. We develop an efficient algorithm to solve the LCT problem. Our method is applied for neural architecture search and achieves significant improvement over state-of-the-art baselines on CIFAR-100, CIFAR-10, and ImageNet.
updated: Mon Nov 30 2020 18:33:34 GMT+0000 (UTC)
published: Mon Nov 30 2020 18:33:34 GMT+0000 (UTC)
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