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自動オープンワールド信頼性評価
Automatic Open-World Reliability Assessment
オープンワールドでの画像分類は、アウトオブディストリビューション(OOD)画像を処理する必要があります。システムは理想的にはOOD画像を拒否する必要があります。そうしないと、既知のクラスの上にマッピングされて信頼性が低下します。 OOD入力を拒否できる開集合分類器を使用すると役立つ場合があります。ただし、開集合分類器の最適な精度は、OODデータの頻度に依存します。したがって、標準分類器または開集合分類器のいずれについても、世界がいつ変化し、OOD入力が増加するとシステムの信頼性が低下するかを判断できることが重要です。ただし、運用時にはラベルがないため、直接精度を評価することはできません。したがって、これらの分類器の信頼性評価は人間のオペレーターが行う必要があり、ネットワークは100%正確ではないため、より複雑になり、いくつかの障害が予想されます。このプロセスを自動化するために、ここでは、オープンワールドの認識信頼性問題を形式化し、報告されたスコア/確率データの分布のみを使用してこの新しい問題に対処するための複数の自動信頼性評価ポリシーを提案します。分散アルゴリズムは、SoftMaxを使用した従来の分類器とオープンワールドのExtreme Value Machine(EVM)の両方に適用して、自動化された信頼性評価を提供できます。すべての新しいアルゴリズムが、SoftMaxの平均を使用した検出よりも大幅に優れていることを示します。
Image classification in the open-world must handle out-of-distribution (OOD) images. Systems should ideally reject OOD images, or they will map atop of known classes and reduce reliability. Using open-set classifiers that can reject OOD inputs can help. However, optimal accuracy of open-set classifiers depend on the frequency of OOD data. Thus, for either standard or open-set classifiers, it is important to be able to determine when the world changes and increasing OOD inputs will result in reduced system reliability. However, during operations, we cannot directly assess accuracy as there are no labels. Thus, the reliability assessment of these classifiers must be done by human operators, made more complex because networks are not 100% accurate, so some failures are to be expected. To automate this process, herein, we formalize the open-world recognition reliability problem and propose multiple automatic reliability assessment policies to address this new problem using only the distribution of reported scores/probability data. The distributional algorithms can be applied to both classic classifiers with SoftMax as well as the open-world Extreme Value Machine (EVM) to provide automated reliability assessment. We show that all of the new algorithms significantly outperform detection using the mean of SoftMax.
updated: Mon Dec 14 2020 01:35:18 GMT+0000 (UTC)
published: Wed Nov 11 2020 01:56:23 GMT+0000 (UTC)
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