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切り捨てられた損失を使用したロバスト モデル フィッティングの再考
Revisiting Robust Model Fitting Using Truncated Loss
ロバスト フィッティングは低レベル ビジョンにおける基本的な問題であり、通常、これは最初にインライアを特定する最大コンセンサス (MC) 推定器によって、または M 推定器によって直接達成されます。これら 2 つの方法は異なるアプリケーションで明確に優先されますが、切り捨てられた損失ベースの M 推定量は、インライアも識別できるため MC に似ています。この研究では、切り捨てられた損失を使用してインライア識別とモデル推定 (SIME) を同時に実現する定式化を再検討します。これは、線形残差モデルと非線形残差モデルの両方に適応する一般化された形式を持っています。 SIME はインライアを見つける際にフィッティング残差を考慮に入れるため、モデル フィッティングで達成可能な最低残差は MC ロバスト フィッティングよりも低いことを示します。次に、交互最小化 (AM) アルゴリズムを使用して SIME 定式化を解きます。一方、SIME 定式化の高い非凸性を緩和するために、半定値緩和 (SDR) 埋め込み AM アルゴリズムが開発されています。さらに、新しいアルゴリズムはさまざまな 2D/3D レジストレーション問題に適用されます。実験結果は、新しいアルゴリズムが高い外れ値比で RANSAC および決定論的近似 MC 法よりも大幅に優れていることを示しています。さらに、回転およびユークリッド位置合わせの問題において、新しいアルゴリズムは、特に高ノイズや外れ値において、最先端の位置合わせ方法と比べて優れています。コードは https://github.com/FWen/mcme.git で入手できます。
Robust fitting is a fundamental problem in low-level vision, which is typically achieved by maximum consensus (MC) estimators to identify inliers first or by M-estimators directly. While these two methods are discriminately preferred in different applications, truncated loss based M-estimators are similar to MC as they can also identify inliers. This work revisits a formulation that achieves simultaneous inlier identification and model estimation (SIME) using truncated loss. It has a generalized form adapts to both linear and nonlinear residual models. We show that as SIME takes fitting residual into account in finding inliers, its lowest achievable residual in model fitting is lower than that of MC robust fitting. Then, an alternating minimization (AM) algorithm is employed to solve the SIME formulation. Meanwhile, a semidefinite relaxation (SDR) embedded AM algorithm is developed in order to ease the high nonconvexity of the SIME formulation. Furthermore, the new algorithms are applied to various 2D/3D registration problems. Experimental results show that the new algorithms significantly outperform RANSAC and deterministic approximate MC methods at high outlier ratios. Besides, in rotation and Euclidean registration problems, the new algorithms also compare favorably with state-of-the-art registration methods, especially in high noise and outliers. Code is available at https://github.com/FWen/mcme.git.
updated: Sun Jun 25 2023 13:10:25 GMT+0000 (UTC)
published: Tue Aug 04 2020 14:10:41 GMT+0000 (UTC)
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