異常検知のための深層1クラス分類は、特徴空間に名目サンプルを集中させることで、異常が遠くにマップされるようなマッピングを学習する。この変換は非常に非線形であるため、その解釈を見つけることは大きな課題となっている。本論文では、マップされたサンプル自体が説明用のヒートマップでもある、説明可能な深層1クラス分類法、Fully Convolutional Data Description (全畳込みデータ記述; FCDD)を提示する。FCDDは、CIFAR-10とImageNetを用いた一般的な異常検出ベンチマークにおいて、競争力のある検出性能と合理的な説明を提供する。異常マップの正解がある最近の製造業データセットMVTec-ADでは、FCDDは、教師なしの設定で新しい最先端を示す。我々の手法は、学習時に正解からの異常マップを組み込むことができ、これらを数枚(5枚程度)使用するだけでも性能が大幅に向上する。最後に、FCDDの説明を用いて、画像の透かしのような擬似的な画像特徴に対する深層1クラス分類モデルの脆弱性を実証した。
Deep one-class classification variants for anomaly detection learn a mapping that concentrates nominal samples in feature space causing anomalies to be mapped away. Because this transformation is highly non-linear, finding interpretations poses a significant challenge. In this paper we present an explainable deep one-class classification method, Fully Convolutional Data Description (FCDD), where the mapped samples are themselves also an explanation heatmap. FCDD yields competitive detection performance and provides reasonable explanations on common anomaly detection benchmarks with CIFAR-10 and ImageNet. On MVTec-AD, a recent manufacturing dataset offering ground-truth anomaly maps, FCDD sets a new state of the art in the unsupervised setting. Our method can incorporate ground-truth anomaly maps during training and using even a few of these (~5) improves performance significantly. Finally, using FCDD's explanations we demonstrate the vulnerability of deep one-class classification models to spurious image features such as image watermarks.