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Cost-efficient segmentation of electron microscopy images using active learning
 過去10年間、電子顕微鏡法は、高品質のギガボクセルサイズのデータセットを生成するのに数時間しかかからない程度まで改善されました。ただし、自動画像分析、特に画像セグメンテーションは、同じペースで進化していません。 U-NetやDeepLabなどの最先端の方法でセグメンテーションパフォーマンスが大幅に改善されたとしても、必要なラベルの量は依然として高すぎます。アクティブ学習は、機械学習のサブフィールドであり、ラベル付けを必要とするサンプルをスマートな方法で選択することにより、この負担を軽減することを目的としています。学習曲線の急峻性を高めるために、特に画像分類のための多くの手法が提案されています。この作業では、これらの手法をCNNベースの深い画像セグメンテーションに拡張します。 3つの異なる電子顕微鏡データセットに関する実験では、アクティブラーニングにより、標準のランダムサンプリングと比較して、ジャカードスコアの観点からセグメンテーションの品質が10〜15%向上することが示されています。
Over the last decade, electron microscopy has improved up to a point that generating high quality gigavoxel sized datasets only requires a few hours. Automated image analysis, particularly image segmentation, however, has not evolved at the same pace. Even though state-of-the-art methods such as U-Net and DeepLab have improved segmentation performance substantially, the required amount of labels remains too expensive. Active learning is the subfield in machine learning that aims to mitigate this burden by selecting the samples that require labeling in a smart way. Many techniques have been proposed, particularly for image classification, to increase the steepness of learning curves. In this work, we extend these techniques to deep CNN based image segmentation. Our experiments on three different electron microscopy datasets show that active learning can improve segmentation quality by 10 to 15% in terms of Jaccard score compared to standard randomized sampling.
updated: Wed Nov 13 2019 15:35:38 GMT+0000 (UTC)
published: Wed Nov 13 2019 15:35:38 GMT+0000 (UTC)
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