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Multi-defect microscopy image restoration under limited data conditions
深層学習法は、蛍光顕微鏡イメージングに関連する欠陥の修復に広く使用されるようになっています。このような方法を適用する際の主要な課題の1つは、トレーニングデータの可用性です。この作業では、トレーニングデータが限られている場合に多欠陥蛍光顕微鏡画像を再構成するための統一された方法を提案します。私たちのアプローチは2つの段階で構成されています。最初に、条件付きインスタンス正規化(CIN)を備えたGenerative Adversarial Network(GAN)を使用してデータ拡張を実行します。次に、ペアのグラウンドトゥルースと欠陥のある画像で条件付きGAN(cGAN)をトレーニングして、復元を実行します。トレーニングデータの量が異なる3つの一般的なタイプの画像欠陥に関する実験は、利用可能なデータが限られている場合、提案された方法が同等の結果をもたらすか、復元された画質でCARE、deblurGAN、およびCycleGANよりも優れていることを示しています。
Deep learning methods are becoming widely used for restoration of defects associated with fluorescence microscopy imaging. One of the major challenges in application of such methods is the availability of training data. In this work, we propose a unified method for reconstruction of multi-defect fluorescence microscopy images when training data is limited. Our approach consists of two stages: first, we perform data augmentation using Generative Adversarial Network (GAN) with conditional instance normalization (CIN); second, we train a conditional GAN (cGAN) on paired ground-truth and defected images to perform restoration. The experiments on three common types of imaging defects with different amounts of training data show that the proposed method gives comparable results or outperforms CARE, deblurGAN and CycleGAN in restored image quality when available data is limited.
updated: Mon Nov 30 2020 20:14:19 GMT+0000 (UTC)
published: Thu Oct 31 2019 01:55:01 GMT+0000 (UTC)
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