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Deep Learning Supersampled Scanning Transmission Electron Microscopy
  圧縮センシングは、解像度を高め、最小限の情報損失で電子顕微鏡ポイントスキャンシステムの電子線量とスキャン時間を短縮できます。圧縮センシングで成功したディープラーニングアプリケーションの歴史に基づいて、ポイントスキャンカバレッジを1 / 16、1 / 25、...、1に減らした走査型透過電子顕微鏡写真をスーパーサンプリングするための2段階マルチスケール生成的敵対ネットワークを開発しました/ 100 px。複数のカバレッジの統合ジェネレーターをトレーニングし、さまざまな信号対雑音比でトレーニングデータの優先順位付けを均質化するための補助ネットワークを導入するための、新しい非敵対的学習ポリシーを提案します。これにより、1/16ピクセルと1/100ピクセルのカバレッジでそれぞれ、平均平方根誤差が3.23%と4.54%になります。カバレッジごとに個別にトレーニングされたネットワークのエラーの1%以内。出力ピクセルごとのエラーを含む、統合された個別のカバレッジジェネレーターの詳細なエラー分布が表示されます。さらに、単一カバレッジのベースライン1ステージネットワークを提示し、Webサービスの数値精度を調査します。ソースコード、トレーニングデータ、および事前トレーニングモデルは、で公開されています
Compressed sensing can increase resolution, and decrease electron dose and scan time of electron microscope point-scan systems with minimal information loss. Building on a history of successful deep learning applications in compressed sensing, we have developed a two-stage multiscale generative adversarial network to supersample scanning transmission electron micrographs with point-scan coverage reduced to 1/16, 1/25, ..., 1/100 px. We propose a novel non-adversarial learning policy to train a unified generator for multiple coverages and introduce an auxiliary network to homogenize prioritization of training data with varied signal-to-noise ratios. This achieves root mean square errors of 3.23% and 4.54% at 1/16 px and 1/100 px coverage, respectively; within 1% of errors for networks trained for each coverage individually. Detailed error distributions are presented for unified and individual coverage generators, including errors per output pixel. In addition, we present a baseline one-stage network for a single coverage and investigate numerical precision for web serving. Source code, training data, and pretrained models are publicly available at
updated: Fri Oct 25 2019 09:39:05 GMT+0000 (UTC)
published: Wed Oct 23 2019 11:30:25 GMT+0000 (UTC)
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