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密スキャン後のデコンボリューションによる顕微鏡の解像度の改善
Improving the resolution of microscope by deconvolution after dense scan
 超解像顕微鏡(STEDなど)は、小さなスポットでサンプルを照らし、非常に高い解像度を実現します。しかし、スポットよりも小さい構造は、この方法では解決できません。そこで、この問題を解決する手法を提案します。 「密スキャン後のデコンボリューション(DDS)」と呼ばれます。まず、前処理段階を導入して、サンプルのROI(関心領域)の周辺領域の光学的不確実性を排除します。次に、ROIが周辺領域とともに密にスキャンされます。最後に、デコンボリューションによって高解像度画像が復元されます。提案された技術は、装置をあまり変更する必要がなく、主にアルゴリズムによって実行されます。シミュレーション実験は、この手法が超解像顕微鏡の解像度をさらに改善できることを示しています。
Super-resolution microscopes (such as STED) illuminate samples with a tiny spot, and achieve very high resolution. But structures smaller than the spot cannot be resolved in this way. Therefore, we propose a technique to solve this problem. It is termed "Deconvolution after Dense Scan (DDS)". First, a preprocessing stage is introduced to eliminate the optical uncertainty of the peripheral areas around the sample's ROI (Region of Interest). Then, the ROI is scanned densely together with its peripheral areas. Finally, the high resolution image is recovered by deconvolution. The proposed technique does not need to modify the apparatus much, and is mainly performed by algorithm. Simulation experiments show that the technique can further improve the resolution of super-resolution microscopes.
updated: Tue Nov 19 2019 03:05:19 GMT+0000 (UTC)
published: Sat Jul 06 2019 03:35:50 GMT+0000 (UTC)
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