今日、畳み込みニューラルネットワーク(CNN)は、画像のノイズ除去のための主要な手法となっている。従来は画像のペアで学習されていたが、実用的なアプリケーションでは入手が困難な場合が多くある。このため、ノイズの多い単一の画像を対象とするNoise2Void~(N2V)のような自己教師付き学習法が開発されている。しかし、自己学習法は残念ながら、画像ペアで学習したモデルには勝てない。ここでは、ピクセルごとの強度分布を予測するためにCNNを訓練する手法である「確率的Noise2Void」(PN2V)を提示する。これらをノイズの適切な記述と組み合わせることで、ノイズの多い観測値と各ピクセルの真の信号に対する完全な確率論的モデルを得る。PN2Vを一般に公開されている顕微鏡データセットを用いて、様々なノイズの下で評価し、最新の教師付き手法と比較して遜色のない結果を得ることができた。
Today, Convolutional Neural Networks (CNNs) are the leading method for image denoising. They are traditionally trained on pairs of images, which are often hard to obtain for practical applications. This motivates self-supervised training methods such as Noise2Void~(N2V) that operate on single noisy images. Self-supervised methods are, unfortunately, not competitive with models trained on image pairs. Here, we present 'Probabilistic Noise2Void' (PN2V), a method to train CNNs to predict per-pixel intensity distributions. Combining these with a suitable description of the noise, we obtain a complete probabilistic model for the noisy observations and true signal in every pixel. We evaluate PN2V on publicly available microscopy datasets, under a broad range of noise regimes, and achieve competitive results with respect to supervised state-of-the-art methods.