少数ショットの分類の問題に対して回帰ネットワークを提案します。分類器は、各クラスの少数の例しか与えられていないため、トレーニングセットにはない新しいクラスに一般化する必要があります。高次元の埋め込みスペースでは、データの方向には通常、大きさよりも豊富な情報が含まれます。これに加えて、距離を集約されたクラス表現と比較する最先端の数ショットメトリックメソッドは、優れたパフォーマンスを示しています。これら2つの洞察を組み合わせて、距離誤差として回帰誤差を使用しながら、すべてのクラスの部分空間で最も近い近似を回帰することにより、埋め込みポイントの分類をメタ学習することを提案します。少数ショット学習の最近のアプローチと同様に、回帰ネットワークはこの限られたデータ体制で有益な単純な帰納的バイアスを反映し、特に複数のショットでより多くの集合クラス表現を形成できる場合に優れた結果を達成します。
We propose regression networks for the problem of few-shot classification, where a classifier must generalize to new classes not seen in the training set, given only a small number of examples of each class. In high dimensional embedding spaces the direction of data generally contains richer information than magnitude. Next to this, state-of-the-art few-shot metric methods that compare distances with aggregated class representations, have shown superior performance. Combining these two insights, we propose to meta-learn classification of embedded points by regressing the closest approximation in every class subspace while using the regression error as a distance metric. Similarly to recent approaches for few-shot learning, regression networks reflect a simple inductive bias that is beneficial in this limited-data regime and they achieve excellent results, especially when more aggregate class representations can be formed with multiple shots.