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Steerable ePCA: Rotationally Invariant Exponential Family PCA
 フォトン制限イメージングでは、ピクセル強度はフォトンカウントノイズの影響を受けます。 X線自由電子レーザー(XFEL)単一分子イメージングの相関分析を使用した3次元再構成など、多くのアプリケーションでは、基礎となる2次元クリーンイメージの共分散を正確に推定する必要があります。低光子数画像からの共分散の正確な推定では、ピクセル強度がポアソン分布であるため、従来のサンプル共分散推定量は最適ではないことを考慮する必要があります。さらに、すべての画像の面内回転コピーを含む単一分子イメージングでは、共分散推定の精度をさらに向上させることができます。この論文では、均一な平面回転と場合によっては反射を含む、カウントノイズ2次元画像の共分散行列推定のための効率的で正確なアルゴリズムを紹介します。私たちの手順である操縦可能なePCAは、最近導入された2つの革新を斬新な方法で組み合わせています。 1つ目は、ポアソン分布、より一般的にはePCAと呼ばれる指数族分布の主成分分析(PCA)の方法論です。 2つ目は操縦可能なPCAで、PCAのすべての平面回転を含めるための高速で正確な手順です。結果の主成分は、入力画像の回転と反射に対して不変です。シミュレートされたXFELデータセットと回転したYale Bの顔データを含む数値実験で、操縦可能なePCAの効率と精度を示します。
In photon-limited imaging, the pixel intensities are affected by photon count noise. Many applications, such as 3-D reconstruction using correlation analysis in X-ray free electron laser (XFEL) single molecule imaging, require an accurate estimation of the covariance of the underlying 2-D clean images. Accurate estimation of the covariance from low-photon count images must take into account that pixel intensities are Poisson distributed, hence the classical sample covariance estimator is sub-optimal. Moreover, in single molecule imaging, including in-plane rotated copies of all images could further improve the accuracy of covariance estimation. In this paper we introduce an efficient and accurate algorithm for covariance matrix estimation of count noise 2-D images, including their uniform planar rotations and possibly reflections. Our procedure, steerable ePCA, combines in a novel way two recently introduced innovations. The first is a methodology for principal component analysis (PCA) for Poisson distributions, and more generally, exponential family distributions, called ePCA. The second is steerable PCA, a fast and accurate procedure for including all planar rotations for PCA. The resulting principal components are invariant to the rotation and reflection of the input images. We demonstrate the efficiency and accuracy of steerable ePCA in numerical experiments involving simulated XFEL datasets and rotated Yale B face data.
updated: Tue Dec 17 2019 17:27:54 GMT+0000 (UTC)
published: Thu Dec 20 2018 18:59:58 GMT+0000 (UTC)
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